Characterization of surface roughness by means of wavelet analysis - Mines Paris
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Characterization of surface roughness by means of wavelet analysis

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https://minesparis-psl.hal.science/hal-00835058

Soumis le : mardi 18 juin 2013-07:08:29

Dernière modification le : mardi 27 août 2024-12:44:15

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00835058 , version 1 (18-06-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00835058 , version 1

Citer

Bruno Figliuzzi, Dominique Jeulin, Gabriel Fricout, Jean-Jacques Piezanowski. Characterization of surface roughness by means of wavelet analysis. 13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Apr 2011, Twickenham, United Kingdom. ⟨hal-00835058⟩

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